Interface characteristics of Mo/Si and B4C/Mo/Si multilayers using non-destructive X-ray techniques - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Surface Science : A Journal Devoted to the Physics and Chemistry of Interfaces Année : 2007

Interface characteristics of Mo/Si and B4C/Mo/Si multilayers using non-destructive X-ray techniques

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Soumis le : vendredi 11 mars 2011-12:18:06

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:14

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Dates et versions

hal-00575880 , version 1 (11-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00575880 , version 1

Citer

Hélène Maury, Philippe Jonnard, Jean-Michel André, Julien Gautier, Françoise Bridou, et al.. Interface characteristics of Mo/Si and B4C/Mo/Si multilayers using non-destructive X-ray techniques. Surface Science : A Journal Devoted to the Physics and Chemistry of Interfaces, 2007, 601 (11), pp.2315-2322. ⟨hal-00575880⟩

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