AlGaN/GaN/Si HEMT's and capacitance deep level transient spectroscopy (DLTS) - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

AlGaN/GaN/Si HEMT's and capacitance deep level transient spectroscopy (DLTS)

H. Mosbahi
  • Fonction : Auteur
M. Gassoumi
  • Fonction : Auteur
M.A. Zaidi
  • Fonction : Auteur
H. Maaref
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00575416 , version 1 (10-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00575416 , version 1

Citer

H. Mosbahi, M. Gassoumi, M.A. Zaidi, Christophe Gaquière, H. Maaref. AlGaN/GaN/Si HEMT's and capacitance deep level transient spectroscopy (DLTS). 2nd International Meeting on Materials for Electronic Applications, IMMEA 2009, 2009, Hammamet, Tunisia. ⟨hal-00575416⟩
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