Caractérisation électrique de défauts ponctuels atomiques uniques dans un semi-conducteur - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Caractérisation électrique de défauts ponctuels atomiques uniques dans un semi-conducteur

B. Grandidier
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
CV

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https://hal.science/hal-00575347

Soumis le : jeudi 10 mars 2011-10:11:31

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00575347 , version 1 (10-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00575347 , version 1

Citer

B. Grandidier. Caractérisation électrique de défauts ponctuels atomiques uniques dans un semi-conducteur. Journées Nanomicrotechnologies, 2009, Paris, France. ⟨hal-00575347⟩

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