X-ray photoemission study of segregation phenomena at AlSb/InAs interfaces

X. Wallart; L. Desplanque; S. Godey

Communication Dans Un Congrès Année : 2009

X-ray photoemission study of segregation phenomena at AlSb/InAs interfaces

(1) , ,

1

X. Wallart

Fonction : Auteur
PersonId : 741251
IdHAL : xavier-wallart
ORCID : 0000-0002-0915-0043
IdRef : 03424879X

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

L. Desplanque

Fonction : Auteur
PersonId : 746179
IdHAL : ludovicdesplanque
ORCID : 0000-0002-2197-4408
IdRef : 076098656

S. Godey

Fonction : Auteur
PersonId : 746144
IdHAL : sylvie-godey
ORCID : 0000-0003-2406-3519
IdRef : 224710451

Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00574866

Soumis le : mercredi 9 mars 2011-09:24:41

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Dates et versions

hal-00574866 , version 1 (09-03-2011)

Identifiants

HAL Id : hal-00574866 , version 1

Citer

X. Wallart, L. Desplanque, S. Godey. X-ray photoemission study of segregation phenomena at AlSb/InAs interfaces. 15th European Molecular Beam Epitaxy Workshop, Euro-MBE 2009, 2009, Zakopane, Poland. ⟨hal-00574866⟩

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