Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
sophie gaffé-clément : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00524939
Soumis le : samedi 9 octobre 2010-20:33:49
Dernière modification le : mardi 12 septembre 2023-10:12:02
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00524939 , version 1
Citer
J. Guilhemsang, O. Neron, N. Ventroux, A. Giulieri. Emphasis on the existence of intermittent faults in embedded systems. IEEE Workshop on defect and Data Driven Testing (D3T), Nov 2010, Austin, Texas, United States. 6 p. ⟨hal-00524939⟩
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