Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Reliability
Année : 2004
Evans Gouno : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00493846
Soumis le : lundi 21 juin 2010-14:24:27
Dernière modification le : lundi 11 mars 2024-14:40:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00493846 , version 1
Citer
Evans Gouno, A. Sen, N. Balakrisnan. Optimal Step-stress test under progressive type I censoring. IEEE Transactions on Reliability, 2004, 53 (3), pp.388-395. ⟨hal-00493846⟩
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