Optimum step-stress for temperature accelerated life test - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Quality and Reliability Engineering International Année : 2007

Optimum step-stress for temperature accelerated life test

Evans Gouno
Laboratoire de Mathématiques de Bretagne Atlantique

Domaines

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https://hal.science/hal-00493841

Soumis le : lundi 21 juin 2010-14:22:13

Dernière modification le : lundi 11 mars 2024-14:40:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00493841 , version 1 (21-06-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00493841 , version 1

Citer

Evans Gouno. Optimum step-stress for temperature accelerated life test. Quality and Reliability Engineering International, 2007, 23, pp.915-924. ⟨hal-00493841⟩

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