Quantum transport length scales in silicon-based semiconducting nanowires: Surface roughness effects - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) Année : 2008

Quantum transport length scales in silicon-based semiconducting nanowires: Surface roughness effects

A. Lherbier
  • Fonction : Auteur
Laboratoire des technologies de la microélectronique
Mp. Persson
  • Fonction : Auteur
Ym Niquet
  • Fonction : Auteur
F. Triozon
  • Fonction : Auteur
S. Roche
  • Fonction : Auteur

Marielle Clot  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00463097

Soumis le : jeudi 11 mars 2010-10:33:43

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:00:56

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00463097 , version 1 (11-03-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00463097 , version 1

Citer

A. Lherbier, Mp. Persson, Ym Niquet, F. Triozon, S. Roche. Quantum transport length scales in silicon-based semiconducting nanowires: Surface roughness effects. Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2008, pp.Issue: 8 (2008): 085301. ⟨hal-00463097⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CEA UGA CNRS FMNT LTM NANOMATERIALS
24 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More