Finite element method as applied to the study of gratings embedded in complementary metal-oxide semiconductor image sensors - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Optical Engineering Année : 2009

Finite element method as applied to the study of gratings embedded in complementary metal-oxide semiconductor image sensors

Guillaume Demesy
  • Fonction : Auteur
Institut FRESNEL
Frederic Zolla
  • Fonction : Auteur
Institut FRESNEL
André Nicolet
Institut FRESNEL
Mireille Commandre
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 832173
Institut FRESNEL
Stéphane Ricq
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Crolles]
Olivier Gagliano
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Crolles]
Brendan Dunne
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Crolles]

Domaines

Optique [physics.optics]

Laurent Gallais  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00454586

Soumis le : lundi 8 février 2010-20:18:48

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00454586 , version 1 (08-02-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00454586 , version 1

Citer

Guillaume Demesy, Frederic Zolla, André Nicolet, Mireille Commandre, Stéphane Ricq, et al.. Finite element method as applied to the study of gratings embedded in complementary metal-oxide semiconductor image sensors. Optical Engineering, 2009, 48, pp.058002. ⟨hal-00454586⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-AMU IF EC-MARSEILLE
25 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More