X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for 3D grain mapping of polycrystals. Part I: direct beam case - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Crystallography Année : 2008

X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for 3D grain mapping of polycrystals. Part I: direct beam case

Wolfgang Ludwig
Matériaux, ingénierie et science [Villeurbanne]
CV
S. Schmidt
  • Fonction : Auteur
E.M. Laurdisen
  • Fonction : Auteur
H.F. Poulsen
  • Fonction : Auteur

Domaines

Matériaux

Laboratoire Mateis  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00433960

Soumis le : vendredi 20 novembre 2009-15:37:11

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00433960 , version 1 (20-11-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00433960 , version 1

Citer

Wolfgang Ludwig, S. Schmidt, E.M. Laurdisen, H.F. Poulsen. X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for 3D grain mapping of polycrystals. Part I: direct beam case. Journal of Applied Crystallography, 2008, pp.302-309. ⟨hal-00433960⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-LYON1 INSA-LYON MATEIS INSA-GROUPE UDL
16 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More