Failure Analysis enhancement by evaluating the photoelectric laser stimulation impact on mixed-mode ICs

Type de document :
Communication dans un congrès
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), 2008, Maastricht, Netherlands. pp.12-16, 2008
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401699
Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : vendredi 3 juillet 2009 - 19:30:16
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:21:06

Identifiants

  • HAL Id : hal-00401699, version 1

Citation

Magdalena Sienkiewicz, Philippe Perdu, Abdellatif Firiti, Kevin Sanchez, Olivier Crepel, et al.. Failure Analysis enhancement by evaluating the photoelectric laser stimulation impact on mixed-mode ICs. European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), 2008, Maastricht, Netherlands. pp.12-16, 2008. 〈hal-00401699〉

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