Different failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure

Type de document :
Communication dans un congrès
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), 2005, arcachon, France. pp.1415-1420, 2005
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401483
Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : vendredi 3 juillet 2009 - 11:21:56
Dernière modification le : samedi 27 octobre 2018 - 01:24:28

Identifiants

  • HAL Id : hal-00401483, version 1

Citation

Nicolas Guitard, Fabien Essely, David Trémouilles, Marise Bafleur, Nicolas Nolhier, et al.. Different failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure. European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), 2005, arcachon, France. pp.1415-1420, 2005. 〈hal-00401483〉

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