Scan-based ATPG diagnostic and optical techniques combination: A new approach to improve accuracy of defect isolation in functional logic failure

Type de document :
Communication dans un congrès
15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2008, Singapour, Singapore. pp.1-5, 2008
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Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : mercredi 24 juin 2009 - 08:59:33
Dernière modification le : jeudi 4 octobre 2018 - 11:14:07

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  • HAL Id : hal-00398000, version 1

Citation

A. Machouat, G. Haller, V. Goubier, Dean Lewis, Vincent Pouget, et al.. Scan-based ATPG diagnostic and optical techniques combination: A new approach to improve accuracy of defect isolation in functional logic failure. 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2008, Singapour, Singapore. pp.1-5, 2008. 〈hal-00398000〉

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