Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing

Type de document :
Communication dans un congrès
8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) 2005, Sep 2005, Cap d'Agde, France. pp.1-7, 2005
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Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : mardi 23 juin 2009 - 16:42:18
Dernière modification le : jeudi 4 octobre 2018 - 11:14:07

Identifiants

  • HAL Id : hal-00397942, version 1

Citation

Alexandre Douin, Vincent Pouget, Frédéric Darracq, Dean Lewis, Pascal Fouillat, et al.. Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing. 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) 2005, Sep 2005, Cap d'Agde, France. pp.1-7, 2005. 〈hal-00397942〉

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