Experimental evidence and extraction of the electron mass variation in [110] uniaxially strained MOSFETs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2007

Experimental evidence and extraction of the electron mass variation in [110] uniaxially strained MOSFETs

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00393711

Soumis le : mardi 9 juin 2009-16:26:17

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:30:12

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Dates et versions

hal-00393711 , version 1 (09-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00393711 , version 1

Citer

F. Rochette, M. Cassé, M. Mouis, G. Reimbold, D. Blachier, et al.. Experimental evidence and extraction of the electron mass variation in [110] uniaxially strained MOSFETs. Solid-State Electronics, 2007, 51 (11-12), pp.1458-1465. ⟨hal-00393711⟩

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