Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2007
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00393582
Soumis le : mardi 9 juin 2009-15:40:24
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:56:32
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00393582 , version 1
Citer
K. Akarvardar, A. Mercha, E. Simoen, N. Subramanian, C. Claeys, et al.. High-temperature performance of state-of-the-art triple-gate transistors. Microelectronics Reliability, 2007, 47 (12), pp.2065-2069. ⟨hal-00393582⟩
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