Automatic statistical full quantum analysis of C-V and I-V characteristics for advanced MOS gate stacks - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronic Engineering Année : 2007

Automatic statistical full quantum analysis of C-V and I-V characteristics for advanced MOS gate stacks

Cédric Leroux
  • Fonction : Auteur
F. Allain
  • Fonction : Auteur
A. Toffoli
  • Fonction : Auteur
G. Ghibaudo
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
CV
G. Reimbold
  • Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Chahla Domenget  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00393151

Soumis le : mardi 9 juin 2009-14:57:56

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:40:35

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00393151 , version 1 (09-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00393151 , version 1

Citer

Cédric Leroux, F. Allain, A. Toffoli, G. Ghibaudo, G. Reimbold. Automatic statistical full quantum analysis of C-V and I-V characteristics for advanced MOS gate stacks. Microelectronic Engineering, 2007, 84 (9-10), pp.2408-2411. ⟨hal-00393151⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-SAVOIE UGA CNRS FMNT IMEP-LAHC CMNE CROMA
52 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More