Transient radiation response of single- and multiple-gate FDSOI transistors to pulsed laser and heavy ion irradiation
M. Gaillardin
(1)
,
P. Paillet
(1)
,
V. Ferlet-Cavrois
(2)
,
J. Baggio
(3)
,
D. Mcmorrow
(4)
,
O. Faynot
(5)
,
C. Jahan
,
L. Tosti
,
S. Cristoloveanu
(6)
1
DAM -
Direction des Applications Militaires
2 DAM/DIF - DAM Île-de-France
3 DCRE CEA - Département de Conception et Réalisation des Experimentations, CEA-DIF
4 NRL - Naval Research Laboratory
5 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
6 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
2 DAM/DIF - DAM Île-de-France
3 DCRE CEA - Département de Conception et Réalisation des Experimentations, CEA-DIF
4 NRL - Naval Research Laboratory
5 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
6 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
C. Jahan
- Fonction : Auteur
L. Tosti
- Fonction : Auteur
S. Cristoloveanu
- Fonction : Auteur
- PersonId : 172108
- IdHAL : sorin-cristoloveanu
- ORCID : 0000-0002-3576-5586
- IdRef : 030493188