Complete characterization in thin film using picosecond ultrasonics and nanostructured transducer - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Complete characterization in thin film using picosecond ultrasonics and nanostructured transducer

P.A. Mante
  • Fonction : Auteur
J.F. Robillard
CV
Arnaud Devos
I. Roch-Jeune
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
CV

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https://hal.science/hal-00361485

Soumis le : lundi 16 février 2009-08:56:30

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00361485 , version 1 (16-02-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00361485 , version 1

Citer

P.A. Mante, J.F. Robillard, Arnaud Devos, I. Roch-Jeune. Complete characterization in thin film using picosecond ultrasonics and nanostructured transducer. Second ASA-EAA Joint Conference, ACOUSTICS'08, 2008, Paris, France. ⟨hal-00361485⟩

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