Quantitative thermoreflectance imaging : calibration method and validation on dedicated integrated circuit - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Quantitative thermoreflectance imaging : calibration method and validation on dedicated integrated circuit

G. Tessier
S. Pavageau
  • Fonction : Auteur
C. Filloy
  • Fonction : Auteur
B. Charlot
  • Fonction : Auteur
G. Jerosolimski
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D. Fournier
  • Fonction : Auteur
B. Cretin
  • Fonction : Auteur
S. Dilhaire
S. Gomes
  • Fonction : Auteur
Centre de Thermique de Lyon
N. Trannoy
  • Fonction : Auteur
P. Vairac
  • Fonction : Auteur
S. Volz
  • Fonction : Auteur

Domaines

Thermique [physics.class-ph] Thermique [physics.class-ph]

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https://hal.science/hal-00361235

Soumis le : vendredi 13 février 2009-14:44:59

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00361235 , version 1 (13-02-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00361235 , version 1

Citer

G. Tessier, S. Pavageau, C. Filloy, B. Charlot, G. Jerosolimski, et al.. Quantitative thermoreflectance imaging : calibration method and validation on dedicated integrated circuit. International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems - THERMINIC, Sep 2005, Belgirate, Italy. ⟨hal-00361235⟩

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