Article Dans Une Revue
Applied Physics Letters
Année : 2008
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https://hal.science/hal-00356648
Soumis le : mercredi 28 janvier 2009-10:34:14
Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-03:30:06
Citer
P.A. Mante, J.F. Robillard, Arnaud Devos. Complete thin film mechanical characterization using picosecond ultrasonics and nanostructured transducers : experimental demonstration on SiO2. Applied Physics Letters, 2008, 93, pp.071909-1-3. ⟨10.1063/1.2975171⟩. ⟨hal-00356648⟩
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