Chapitre D'ouvrage
Advanced Techniques and Applications on Scanning Probe Microscopy
Année : 2008
Laboratoire CETHIL : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00352315
Soumis le : lundi 12 janvier 2009-16:32:06
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00352315 , version 1
Citer
S. Gomes, S. Lefevre. Scanning thermal microscopy (STHM): Advances of the technique for the characterization of the thermo-physical properties of solid materials. J.L. Bubendorff et F.H. Lei. Advanced techniques and applications on scanning probe microscopy, Research Signpost, pp.157-195, 2008, 978-81-7895-378-6. ⟨hal-00352315⟩
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