Defect detection in multilayer ceramic capacitors - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2006

Defect detection in multilayer ceramic capacitors

V. Krieger
  • Fonction : Auteur
W. Wondrak
  • Fonction : Auteur
A. Dehbi
  • Fonction : Auteur
W. Bartel
  • Fonction : Auteur
Y. Ousten
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
B. Levrier
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

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https://hal.science/hal-00334736

Soumis le : lundi 27 octobre 2008-16:34:57

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00334736 , version 1 (27-10-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00334736 , version 1

Citer

V. Krieger, W. Wondrak, A. Dehbi, W. Bartel, Y. Ousten, et al.. Defect detection in multilayer ceramic capacitors. Microelectronics Reliability, 2006, 46 (Issues 9-11), pp.1926-1931. ⟨hal-00334736⟩

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