Analyse du potentiel de surface du GaN par microscopie à sonde de Kelvin (KFM)

Sophie Barbet (1) , D. Deresmes (1) , Thierry Melin (1) , Didier Theron (1) , Raphaël Aubry (2) , Marie-Antoinette Di Forte-Poisson (2)

1 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
2 Thales Research and Technology [Palaiseau]

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]

Sophie Barbet, D. Deresmes, Thierry Melin, Didier Theron, Raphaël Aubry, et al.. Analyse du potentiel de surface du GaN par microscopie à sonde de Kelvin (KFM). 10ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2007, Troyes, France. ⟨hal-00285285⟩