Electronic transport through alkylthiol monolayers under mechanical stress measured by Conducting-AFM - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Electronic transport through alkylthiol monolayers under mechanical stress measured by Conducting-AFM

S. Lenfant
CV
D. Deresmes
CV
D. Vuillaume
  • Fonction : Auteur
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

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https://hal.science/hal-00285224

Soumis le : jeudi 5 juin 2008-09:16:31

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00285224 , version 1 (05-06-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00285224 , version 1

Citer

S. Lenfant, D. Deresmes, D. Vuillaume. Electronic transport through alkylthiol monolayers under mechanical stress measured by Conducting-AFM. European Materials Research Society Spring Meeting, Symposium K : Nanoscale self-assembly and patterning, 2007, Strasbourg, France. ⟨hal-00285224⟩

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