Challenges and potential of new approaches for reliability assessment of nanotechnologies - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Comptes Rendus de l'Academie des Sciences. Série IV, Physique, Astronomie Année : 2008
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Dates et versions

hal-00266387 , version 1 (21-03-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00266387 , version 1

Citer

L. Bechou, Y. Danto, J.Y. Deletage, F. Verdier, Y. Deshayes, et al.. Challenges and potential of new approaches for reliability assessment of nanotechnologies. Comptes Rendus de l'Academie des Sciences. Série IV, Physique, Astronomie, 2008, pp.95-109. ⟨hal-00266387⟩
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