Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization

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Communication dans un congrès
13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2006, Singapour, Singapore. IEEE, pp.270-275, 10.1109/IPFA.2006.251044, 2006, 〈10.1109/IPFA.2006.251044〉
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204574
Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : mardi 15 janvier 2008 - 08:52:41
Dernière modification le : samedi 27 octobre 2018 - 01:24:28

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Fabien Essely, Nicolas Guitard, Frédéric Darracq, Vincent Pouget, Marise Bafleur, et al.. Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization. 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2006, Singapour, Singapore. IEEE, pp.270-275, 10.1109/IPFA.2006.251044, 2006, 〈10.1109/IPFA.2006.251044〉. 〈hal-00204574〉

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