Design For Testability of Built-In Laser Sensitive Cells

Type de document :
Communication dans un congrès
Proc. of the 6th European Symposium Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, 1995, France. NC, pp.1, 1995
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Soumis le : mardi 6 novembre 2007 - 09:05:32
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:21:08

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185421, version 1

Citation

Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, Yvan Maidon, Jean Tomas, Jean-Paul Dom. Design For Testability of Built-In Laser Sensitive Cells. Proc. of the 6th European Symposium Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, 1995, France. NC, pp.1, 1995. 〈hal-00185421〉

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