Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam

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Microelectronic Engineering, Elsevier, 1996, 31, pp.1
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Soumis le : mardi 6 novembre 2007 - 09:05:26
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Citation

Pascal Fouillat, Hervé Lapuyade, Yvan Maidon, Jean-Paul Dom. Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam. Microelectronic Engineering, Elsevier, 1996, 31, pp.1. 〈hal-00185406〉

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