Single-Event Sensitivity of a Single SRAM Cell

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IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002, 49, pp.1486-1490
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Soumis le : mardi 6 novembre 2007 - 09:05:21
Dernière modification le : jeudi 4 octobre 2018 - 11:14:07

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  • HAL Id : hal-00185398, version 1

Citation

Frédéric Darracq, Thomas Beauchene, Vincent Pouget, Hervé Lapuyade, Dean Lewis, et al.. Single-Event Sensitivity of a Single SRAM Cell. IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002, 49, pp.1486-1490. 〈hal-00185398〉

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