Low-cost backside laser test method to pre-characterize the COTS IC's sensitivity to Single Event Effects

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Microelectronics Reliability, Elsevier, 2003, 43, pp.1
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Soumis le : mardi 6 novembre 2007 - 09:05:19
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:21:08

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Citation

Frédéric Darracq, Hervé Lapuyade, N. Buard, Pascal Fouillat, R. Dufayel, et al.. Low-cost backside laser test method to pre-characterize the COTS IC's sensitivity to Single Event Effects. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2003, 43, pp.1. 〈hal-00185396〉

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