Communication Dans Un Congrès
Année : 1997
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https://hal.science/hal-00183518
Soumis le : mardi 30 octobre 2007-08:52:58
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00183518 , version 1
Citer
Nathalie Saysset, Nathalie Labat, Andre Touboul, Yves Danto. Applications of trap characterization in III-V devices : modeling and/or technological improvement. ESA Electronic Components Conference EECC'97, 1997, Netherlands. pp.1. ⟨hal-00183518⟩
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