Reliability evaluation of GaAs HBT technologies - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1999
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183477 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183477 , version 1

Citer

Cristell Maneux, Nathalie Labat, Nathalie Malbert, Andre Touboul, Yves Danto, et al.. Reliability evaluation of GaAs HBT technologies. Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, 1999, France. pp.45-46. ⟨hal-00183477⟩
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