Communication Dans Un Congrès
Année : 2003
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https://hal.science/hal-00183106
Soumis le : lundi 29 octobre 2007-15:32:00
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00183106 , version 1
Citer
Nathalie Malbert, Cristell Maneux, Nathalie Labat, Andre Touboul. Low frequency noise as early indicator of degradation in compound semiconductor FETs and HBTs. 17th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations, 2003, Czech Republic. pp.767-773. ⟨hal-00183106⟩
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