Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics

Type de document :
Communication dans un congrès
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2004, United States. NC, pp.1, 2004
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Soumis le : lundi 29 octobre 2007 - 13:11:05
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Citation

Grégory Andriamonje, Vincent Pouget, Yves Ousten, Dean Lewis, Bernard Plano, et al.. Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics. IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2004, United States. NC, pp.1, 2004. 〈hal-00182908〉

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