A Transient Measurement Setup for Electro-thermal Characterisation for SiGe HBTs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00181978 , version 1 (24-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00181978 , version 1

Citer

Pierre-Yvan Sulima, Thomas Zimmer, Helene Beckrich, Jean Luc Battaglia, Sébastien Fregonese, et al.. A Transient Measurement Setup for Electro-thermal Characterisation for SiGe HBTs. MIXDES, Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, 2005, Pologne. pp.1. ⟨hal-00181978⟩
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