Scanning laser ultrasonics experiments for in-situ non-destructive analysis of integrated circuits

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IEEE Transactions on Device and Material Reliability, 2005, 1, pp.1
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Soumis le : mercredi 24 octobre 2007 - 16:46:41
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Citation

Grégory Andriamonje, Vincent Pouget, Yves Ousten, Dean Lewis, Bernard Plano, et al.. Scanning laser ultrasonics experiments for in-situ non-destructive analysis of integrated circuits. IEEE Transactions on Device and Material Reliability, 2005, 1, pp.1. 〈hal-00181926〉

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