Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2007
Genevieve Duchamp : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00180353
Soumis le : jeudi 18 octobre 2007-18:17:56
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00180353 , version 1
Citer
Geneviève Duchamp, Didier Castagnet, Alain Meresse. Near-field EMC study to improve electronic component reliability. Microelectronics Reliability, 2007, 47 (9-11), pp.1668-1672. ⟨hal-00180353⟩
Collections
30
Consultations
0
Téléchargements