Evidence of Hole-Electron Quasiparticle Interference in ErSi2 Semimetal by Fourier-Transform Scanning Tunneling Spectroscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review Letters Année : 2005

Evidence of Hole-Electron Quasiparticle Interference in ErSi2 Semimetal by Fourier-Transform Scanning Tunneling Spectroscopy

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

François Vonau  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00174376

Soumis le : lundi 24 septembre 2007-10:58:35

Dernière modification le : mercredi 13 mars 2024-09:40:09

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Dates et versions

hal-00174376 , version 1 (24-09-2007)

Identifiants

Citer

François Vonau, Dominique Aubel, Gérard Gewinner, Stephan Zabrocki, Jean-Charles Peruchetti, et al.. Evidence of Hole-Electron Quasiparticle Interference in ErSi2 Semimetal by Fourier-Transform Scanning Tunneling Spectroscopy. Physical Review Letters, 2005, 95, pp.176803. ⟨10.1103/PhysRevLett.95.176803⟩. ⟨hal-00174376⟩

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