Indirect two-trace method to determine a faceted low-energy interface between two crystallographically correlated crystals - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Crystallography Année : 2007

Indirect two-trace method to determine a faceted low-energy interface between two crystallographically correlated crystals

Yudong Zhang
Laboratoire d'étude des textures et application aux matériaux
Claude Esling
  • Fonction : Auteur
Laboratoire d'étude des textures et application aux matériaux
X. Zhao
L. Zuo
  • Fonction : Auteur

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Mécanique des matériaux [physics.class-ph] Mécanique des matériaux [physics.class-ph] Cristallographie

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https://hal.science/hal-00168906

Soumis le : jeudi 30 août 2007-16:38:27

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:49

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Dates et versions

hal-00168906 , version 1 (30-08-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00168906 , version 1

Citer

Yudong Zhang, Claude Esling, X. Zhao, L. Zuo. Indirect two-trace method to determine a faceted low-energy interface between two crystallographically correlated crystals. Journal of Applied Crystallography, 2007, 40, pp.436-440. ⟨hal-00168906⟩

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