Electronic transport through alkylthiol monolayers under mechanical stress measured by Conducting-AFM - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Electronic transport through alkylthiol monolayers under mechanical stress measured by Conducting-AFM

S. Lenfant
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
CV
D. Deresmes
CV
D. Vuillaume
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00163252

Soumis le : mardi 17 juillet 2007-10:31:02

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00163252 , version 1 (17-07-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00163252 , version 1

Citer

S. Lenfant, D. Deresmes, D. Vuillaume. Electronic transport through alkylthiol monolayers under mechanical stress measured by Conducting-AFM. Third Meeting on Molecular Electronics, ElecMol'06, 2006, Grenoble, France. ⟨hal-00163252⟩

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