Effects of GSM-1800 exposure on radical stress in rat brain - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00163111 , version 1 (16-07-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00163111 , version 1

Citer

I. Lagroye, E. Haro, E. Ladevèze, B. Billaudel, M. Taxile, et al.. Effects of GSM-1800 exposure on radical stress in rat brain. 8th International Congress of the European BioElectromagnetics Association, Apr 2007, Bordeaux, France. ⟨hal-00163111⟩
129 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More