OPTIMAL PATCH RESIDENCE TIME IN EGG PARASITOIDS:INNATE VERSUS LEARNED ESTIMATE OF PATCH QUALITY - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue OECOLOGICA Année : 2004

OPTIMAL PATCH RESIDENCE TIME IN EGG PARASITOIDS:INNATE VERSUS LEARNED ESTIMATE OF PATCH QUALITY

G. Boivin
  • Fonction : Auteur correspondant
Ecologie comportementale
X. Fauvergue
Ecologie comportementale
CV
E. Wajnberg
  • Fonction : Auteur
Ecologie comportementale

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Soumis le : mardi 10 juillet 2007-10:09:34

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Identifiants

  • HAL Id : hal-00161181 , version 1

Citer

G. Boivin, X. Fauvergue, E. Wajnberg. OPTIMAL PATCH RESIDENCE TIME IN EGG PARASITOIDS:INNATE VERSUS LEARNED ESTIMATE OF PATCH QUALITY. OECOLOGICA, 2004, 138, pp.640-647. ⟨hal-00161181⟩

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