Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2006
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00160203
Soumis le : jeudi 5 juillet 2007-11:00:57
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00160203 , version 1
Citer
Wilsoncarlos Maia-Filho, Michel Brizoux, Hélène Fremont, Yves Danto. Improved physical understanding of intermittent failure in continuous monitoring method. Microelectronics Reliability, 2006, 46, pp.1886-1891. ⟨hal-00160203⟩
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