Strain mapping of V-groove InGaAs/GaAs strained quantum wires using cross sectional Atomic Force Microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Surface Science Année : 2000

Strain mapping of V-groove InGaAs/GaAs strained quantum wires using cross sectional Atomic Force Microscopy

F. Lelarge
  • Fonction : Auteur
C. Priester
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
C. Constantin
  • Fonction : Auteur
A. Rudra
  • Fonction : Auteur
K. Leifer
  • Fonction : Auteur
E. Kapon
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00158661

Soumis le : vendredi 29 juin 2007-11:34:48

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00158661 , version 1 (29-06-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00158661 , version 1

Citer

F. Lelarge, C. Priester, C. Constantin, A. Rudra, K. Leifer, et al.. Strain mapping of V-groove InGaAs/GaAs strained quantum wires using cross sectional Atomic Force Microscopy. Applied Surface Science, 2000, 166, pp.290-294. ⟨hal-00158661⟩

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