Etude par EFM des propriétés de charge d'ilots semiconducteurs de taille nanométrique - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

Etude par EFM des propriétés de charge d'ilots semiconducteurs de taille nanométrique

Thierry Melin
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
D. Deresmes
CV
D. Stievenard

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https://hal.science/hal-00149683

Soumis le : lundi 28 mai 2007-10:54:41

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00149683 , version 1 (28-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00149683 , version 1

Citer

Thierry Melin, D. Deresmes, D. Stievenard. Etude par EFM des propriétés de charge d'ilots semiconducteurs de taille nanométrique. Forum des microscopies à sonde locale, 2002, Spa, Belgique. ⟨hal-00149683⟩

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