Electric force microscopy of individually charged semiconductor nanoparticles on conductive substrates : an analytical model for quantitative charge imaging - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) Année : 2004

Electric force microscopy of individually charged semiconductor nanoparticles on conductive substrates : an analytical model for quantitative charge imaging

Thierry Melin
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
H. Diesinger
D. Deresmes
CV
D. Stievenard

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https://hal.science/hal-00141248

Soumis le : jeudi 12 avril 2007-10:44:43

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

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Dates et versions

hal-00141248 , version 1 (12-04-2007)

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  • HAL Id : hal-00141248 , version 1

Citer

Thierry Melin, H. Diesinger, D. Deresmes, D. Stievenard. Electric force microscopy of individually charged semiconductor nanoparticles on conductive substrates : an analytical model for quantitative charge imaging. Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2004, 69, pp.035321/1-8. ⟨hal-00141248⟩

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