Microstructure and Mechanical Properties of ECD and PVD Cu thin films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00140909 , version 1 (10-04-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00140909 , version 1

Citer

M. Ignat, F. Robaud, M. Swain, M. Gregoire. Microstructure and Mechanical Properties of ECD and PVD Cu thin films. Vth Institute of Materials International Conference(East Asia) –MP3, 2006, Singapore, Singapore. ⟨hal-00140909⟩

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