Kelvin probe force microscopy on surfaces of UHV-cleaved ionic crystals

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Nanotechnology, Institute of Physics, 2006, 17, pp.S155-S161
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Contributeur : Hal Cinam <>
Soumis le : jeudi 26 octobre 2006 - 16:48:42
Dernière modification le : jeudi 18 janvier 2018 - 01:21:19

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  • HAL Id : hal-00110185, version 1

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C. Barth, C.R. Henry. Kelvin probe force microscopy on surfaces of UHV-cleaved ionic crystals. Nanotechnology, Institute of Physics, 2006, 17, pp.S155-S161. 〈hal-00110185〉

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