Injection and detection of electrical charges by EFM
Résumé
Electrostatic Force Microscopy and electric charges in semiconducting nanostructures
Joel Chevrier : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00088795
Soumis le : vendredi 4 août 2006-18:22:29
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:25:47
Archivage à long terme le : lundi 5 avril 2010-22:58:13
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00088795 , version 1
Citer
Florence Marchi, Raphaelle Dianoux, Fabio Comin, Joël Chevrier. Injection and detection of electrical charges by EFM. 2006. ⟨hal-00088795⟩
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